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蔡司顯微鏡
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蔡司雙束電鏡Crossbeam系列結合了高分辨率場發射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能,以及新一代聚焦離子束(FIB)的優異加工能力。無論是用于多用戶實驗平臺,還是科研或工業實驗室, 利用Crossbeam系列模塊化的平臺設計理念,您可基于自身需求隨時升級儀器系統(例如使用LaserFIB進行大規模材料加工)。
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